Temat




Defektoskopu ultradźwiękowy







































- Opis układu pomiarowego:

Defektoskop ultradźwiękowy składa się z: układu elektrycznego generującego impulsy elektryczne, głowicy ultradźwiękowej funkcjonującej jako nadajnik (przetwarzający impulsy elektryczne na drgania ultradźwiękowe wprowadzane do badanej próbki) oraz odbiornik (przetwarzający falę ultradźwiękową docierającą do niej z wnętrza próbki na impuls elektryczny), wzmacniacza elektronicznego rejestrowanych impulsów, oscyloskopu, na który podawane są impulsy z nadajnika i odbiornika. Podstawa czasu lampy oscyloskopowej defektoskopu ultradźwiękowego może być wyskalowana w jednostkach czasu lub też uwzględniając prędkość rozchodzenia się fal w badanym materiale bezpośrednio w jednostkach długości.
Defektoskopia- nie niszcząca metoda badań uszkodzeń i wykrywania defektów w przedmiotach, głównie metalowych (odlewach, odkuwkach, spawach itp.). Ze względu na wykorzystywane w badaniu zjawiska fizyczne rozróżnia się defektoskopię gamma, rentgenowską, luminescencyjną, magnetyczną i elektromagnetyczną oraz ultradźwiękową.
W defektoskopii ultradźwiękowej bada się rozchodzenie się fali akustycznej wysokiej częstości w danym przedmiocie. Stosuje się tu metodę echa i metodę cienia, rezonansu, impedancji oraz drgań własnych.
Metoda echa: dźwięk odbity, dochodzący (lub powracający) do określonego punktu z takim opóźnieniem i natężeniem, że może być rejestrowany jako dźwięk oddzielny w stosunku do dźwięku podstawowego, przychodzącego do tego punktu.
Metoda cienia: obszar, do którego nie docierają promienie światła (cień pełny), lub docierają częściowo (półcień). W rzeczywistości granica cienia nie jest ostra, co można najłatwiej zaobserwować oświetlając przedmiot światłem monochromatycznym, np. rozszerzoną wiązką lasera. Ujawnia się wówczas dyfrakcyjna struktura cienia.







1. Błędy względne pomiarów próbki metodą tradycyjną oraz za pomocą defektoskopu ultradźwiękowego wynoszą od 0 do 0,9%. Należy jednak zaznaczyć, że błąd ten maleje wraz ze wzrostem wartości mierzonej. Wartość 0,9% błędu odpowiada długości 10,910-3 [m].

2. Błędy względne pomiarów mogą wynikać z błędnego odczytu z ekranu lampy oscyloskopowej oraz niedokładności wyników uzyskanych za pomocą suwmiarki.

4. wyniki wykazują słuszność stosowania defektoskopii ultradźwiękowej do badania elementów i wykrywania ewentualnych wad materiałowych np. w elementach odpowiedzialnych za bezpieczeństwo (w samochodach-części układów hamulcowych, w samolotach, statkach – powierzchnie nitów)
Potwierdzeniem tej tezy jest niewielki błąd względny pomiędzy wynikami pomiarów metodą echa i za pomocą suwmiarki.